ລະຫັດ QR
ກ່ຽວກັບພວກເຮົາ
ຜະລິດຕະພັນ
ຕິດຕໍ່ພວກເຮົາ


ແຟັກ
+86-579-87223657

ອີເມລ

ທີ່ຢູ່
Wangda Road, Ziyang Street, Wuyi County, ເມືອງ Jinhua, ແຂວງ Zhejiang, ຈີນ
ແກ້ໄຂບັນຫາຂອງຄວາມຫນາຂອງຮູບເງົາທີ່ບໍ່ເປັນເອກະພາບທີ່ເກີດຈາກການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ຖົງສູງ (1.4%) ໃນຫຼາຍຖົງຊິລິໂຄນ epitaxy graphite susceptors, VeTek Semiconductor ໄດ້ປັບປຸງຄວາມຮາບພຽງຂອງ susceptor ເປັນ <0.08mm ແລະຫຼຸດຜ່ອນການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ຖົງເປັນ 0.69% ໂດຍຜ່ານ simsceptor ລະດັບຄວາມສູງຂອງ CVD. ສົ່ງເສີມຜົນຜະລິດ wafer epitaxial.
Multi-Pocket Silicon Epitaxy Graphite Susceptors ທີ່ມີການເຄືອບ CVD SiC ຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ
ໃນລະຫວ່າງການຜະລິດຊິລິໂຄນ epitaxy ຫຼາຍຖົງ, ລູກຄ້າຂອງພວກເຮົາ (ໂຮງງານຜະລິດ wafer semiconductor) ປະເຊີນກັບສິ່ງທ້າທາຍທີ່ຍາວນານກັບການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ຖົງສູງໃນຄວາມຫນາຂອງຊັ້ນ epitaxial (ຂໍ້ມູນຕົ້ນສະບັບ: 1.4%). ນີ້ໄດ້ຮັບຜົນກະທົບຢ່າງຮ້າຍແຮງຕໍ່ຄວາມສອດຄ່ອງຂອງ wafer epitaxial ແລະຜົນຜະລິດຂອງອຸປະກອນລົງລຸ່ມ. ໂດຍການດໍາເນີນການຈໍາລອງຕົວເລກ 3D ແລະການວິເຄາະຂອງນະໂຍບາຍດ້ານຂອງນ້ໍາພາຍໃນແລະພາກສະຫນາມຄວາມຮ້ອນພາຍໃນ CVD epitaxy furnace, ປະສົມປະສານກັບການເພີ່ມປະສິດທິພາບໂຄງສ້າງເຄື່ອງມືແລະເຕັກໂນໂລຊີການເຄືອບສານເຄມີ Vapor Deposition Silicon Carbide (CVD SiC) ທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ, ທີມງານ VeTek Semiconductor ໄດ້ປັບປຸງຄວາມຮາບພຽງຢູ່ດ້ານຫນ້າຂອງ epitaxy multi-pocket siliconite ຈາກ multi-pocket silicon. <0.08 ມມ. ປະຕິບັດຕາມການປັບປຸງເຫຼົ່ານີ້, ການປ່ຽນແປງຄວາມຫນາຂອງຖົງໃສ່ກັບຖົງຂອງລູກຄ້າໄດ້ຫຼຸດລົງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍເຖິງ 0.69%, ບັນລຸການກ້າວກະໂດດດ້ານຄຸນນະພາບໃນຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງຮູບເງົາ.
ການປຽບທຽບການວັດແທກປະສິດທິພາບທີ່ສໍາຄັນ
|
Key Metric |
ຂໍ້ມູນການປັບປຸງກ່ອນ |
ຂໍ້ມູນຫຼັງການປັບປຸງ |
ການເພີ່ມປະສິດທິພາບ & ການປັບປຸງຂອບ |
|
ການປ່ຽນແປງຂອງຄວາມຫນາຂອງຮູບເງົາຈາກຖົງໃສ່ກັບຖົງ |
1.40% |
0.69% |
ຫຼຸດລົງ 50.7% (ຫຼຸດລົງຢ່າງແທ້ຈິງ 0.71%) |
|
Graphite Susceptor Flatness |
< 0.20 ມມ |
< 0.08 ມມ (ທຳມະດາ <0.15 ມມ) |
ຄວາມແມ່ນຍໍາຂອງຮາບພຽງຖືກປັບປຸງ 60% |
|
ຄວາມຫນາຂອງຮູບເງົາ CVD Epitaxial Wafer ເປັນເອກະພາບ |
ທຸກຍາກ (ຜົນກະທົບເຂດແດນຮ້າຍແຮງ) |
ທີ່ດີເລີດ (ດີເດັ່ນຄວາມສອດຄ່ອງກັບແຜ່ນເຕັມ) |
ບັນລຸມາດຕະຖານຊັ້ນຮຽນທີ 1 ຂອງໂຮງງານຜະລິດຊັ້ນນໍາລະດັບ A |
|
Epitaxial Wafer ຜົນຜະລິດໂດຍລວມ |
ອັດຕາການຂູດສູງສໍາລັບ wafers ຂອບ |
ປັບປຸງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍ |
ປະສິດທິພາບການຜະລິດດຽວໄດ້ເພີ່ມຂຶ້ນ ~ 12% |
ທັດສະນະຫຼັກ: ໃນຂະຫນາດໃຫຍ່, ການຜະລິດຊິລິໂຄນ epitaxy ຫຼາຍຖົງ, ເຖິງແມ່ນວ່າການຜິດປົກກະຕິຂອງ susceptor ນາທີໄດ້ຖືກຂະຫຍາຍໂດຍການສູນເສຍຜົນຜະລິດ chip ລາຄາແພງ.
ລູກຄ້າໃນການຮ່ວມມືນີ້ແມ່ນອຸປະກອນໄຟຟ້າຊັ້ນນໍາ 8 ນິ້ວ / 12 ນິ້ວແລະໂຮງງານຜະລິດ wafer ຊິລິໂຄນ epitaxial, ຕົ້ນຕໍແມ່ນການຜະລິດ wafers epitaxial ແຜ່ນຫນາທີ່ໃຊ້ໃນ MOSFETs, IGBTs, ແລະເອເລັກໂຕຣນິກລົດຍົນ. ໃນຂະນະທີ່ລູກຄ້າລຸ່ມຕ້ອງການຄວາມສອດຄ່ອງທີ່ເຂັ້ມງວດໃນຕົວກໍານົດການໄຟຟ້າຂອງຊິບ, ຄວາມຫນາຂອງຊັ້ນ epitaxial ແລະຄວາມສອດຄ່ອງຂອງຄວາມຕ້ານທານໄດ້ກາຍເປັນຕົວຊີ້ບອກຫຼັກສໍາລັບການປະເມີນຄຸນນະພາບຂອງ wafer epitaxial. ລູກຄ້າໃຊ້ເຄື່ອງປະຕິກອນ CVD ຊິລິໂຄນ epitaxy ຫຼາຍກະເປົ໋າທີ່ສາມາດປຸງແຕ່ງຊິລິໂຄນ wafers ຫຼາຍໆຄັ້ງພ້ອມກັນໃນການດໍາເນີນງານດຽວ. ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ເນື່ອງຈາກວົງຈອນຄວາມຮ້ອນຂອງຄວາມຮ້ອນສູງເປັນເວລາດົນນານແລະການເຊາະເຈື່ອນການໄຫຼຂອງອາຍແກັສ, susceptors graphite ຕົ້ນສະບັບຂອງເຂົາເຈົ້າບໍ່ສາມາດຕອບສະຫນອງຄວາມຕ້ອງການຂະບວນການທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາສູງກ່ຽວກັບການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ກະເປົ໋າແລະຄວາມຮາບພຽງ.
ມຸມເບິ່ງຫຼັກ: ຄວາມທົນທານຂອງ graphite susceptor ຫຼາຍເກີນໄປຈະລົບກວນການນໍາຄວາມຮ້ອນແລະການກະຈາຍຊ່ອງໃສ່ອາຍແກັສພາຍໃນເຕົາ CVD, ເຮັດໃຫ້ເກີດການປ່ຽນແປງຄວາມຫນາແຫນ້ນລະຫວ່າງຖົງ.
ໃນລະຫວ່າງການເຕີບໃຫຍ່ຂອງ epitaxial CVD, ທາດອາຍຜິດຂອງຄາຣະວາ (ເຊັ່ນ: SiHCl3/SiH4) ຝາກໄວ້ໃນອຸນຫະພູມສູງຢູ່ເທິງພື້ນຜິວ wafer ເພື່ອສ້າງເປັນຊັ້ນ epitaxial ແກ້ວດຽວ. ຕົວຍຶດ graphite ບໍ່ພຽງແຕ່ເຮັດຫນ້າທີ່ເປັນຜູ້ໃຫ້ບໍລິການເທົ່ານັ້ນ, ແຕ່ຍັງມີບົດບາດສໍາຄັນໃນການນໍາຄວາມຮ້ອນທີ່ເປັນເອກະພາບແລະການຊີ້ນໍາພາກສະຫນາມການໄຫຼ. ຄໍຂອດທາງດ້ານວິຊາການສະເພາະທີ່ລູກຄ້າປະເຊີນກັບປະກອບມີ:
ເນື່ອງຈາກການຜິດປົກກະຕິຂອງຈຸນລະພາກໃນດ້ານຫຼັງຈາກການນໍາໃຊ້ຕໍ່ເນື່ອງ, ເຄື່ອງດູດ graphite ຫຼາຍຖົງຕົ້ນສະບັບຂອງລູກຄ້າໄດ້ສະແດງຄວາມແຕກຕ່າງເລັກນ້ອຍໃນຄວາມເລິກຂອງຖົງຢາງແລະປະສິດທິພາບລັງສີຄວາມຮ້ອນລະຫວ່າງກະເປົ໋າສ່ວນບຸກຄົນ. ການວັດແທກຕົວຈິງໄດ້ເປີດເຜີຍຂໍ້ມູນການປ່ຽນແປງຈາກຖົງໄປໃນຖົງສູງເຖິງ 1.4%. ຄວາມແຕກຕ່າງນີ້ໂດຍກົງເຮັດໃຫ້ອັດຕາການຂະຫຍາຍຕົວຂອງຊັ້ນ epitaxial ທີ່ບໍ່ສອດຄ່ອງໃນທົ່ວ wafers ຊິລິໂຄນທີ່ວາງໄວ້ໃນກະເປົ໋າທີ່ແຕກຕ່າງກັນພາຍໃນ batch ດຽວກັນ, ເຊິ່ງກໍ່ໃຫ້ເກີດຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງຮູບເງົາຫຼາຍເກີນໄປ.
ຄວາມຮາບພຽງຂອງຕົວຍຶດຕົ້ນສະບັບສາມາດຮັກສາໄວ້ຢູ່ໃນລະດັບ <0.20mm. ໃນສະພາບແວດລ້ອມ epitaxy ທີ່ມີອຸນຫະພູມສູງຂອງ 1100 ° C-1200 ° C, ພື້ນຜິວທີ່ບໍ່ສະເຫມີກັນເຮັດໃຫ້ການໄຫຼຂອງອາຍແກັສ reacting ກາຍເປັນ eddies ທ້ອງຖິ່ນໃນຂະນະທີ່ສ້າງຊ່ອງຫວ່າງທີ່ບໍ່ເປັນເອກະພາບລະຫວ່າງ susceptor ແລະເຄື່ອງເຮັດຄວາມຮ້ອນ induction. ຕໍ່ມານີ້ເຮັດໃຫ້ພື້ນທີ່ຄວາມຮ້ອນທີ່ບໍ່ເປັນເອກະພາບໃນທົ່ວພື້ນຜິວ, ການເຫນັງຕີງຂອງຄວາມຫນາຂອງຮູບເງົາຮ້າຍແຮງຂຶ້ນ.
ຈຸດເຈັບປວດ & ການວິເຄາະກົນໄກດ້ານວິຊາການ
|
ການສະແດງອອກຂອງຈຸດເຈັບປວດ |
ທາງດ້ານຮ່າງກາຍ / ກົນໄກຂະບວນການ |
ຜົນກະທົບຕໍ່ການຜະລິດ & ຜົນຜະລິດ |
|
Pocket-to-Pocket Variation ຢູ່ທີ່ 1.4% |
ຄວາມເລິກຂອງຊ່ອງຫວ່າງບໍ່ສອດຄ່ອງ ແລະອັດຕາການເຮັດຄວາມຮ້ອນດ້ານລຸ່ມລະຫວ່າງກະເປົ໋າ |
ການປ່ຽນແປງຄວາມຫນາຂະຫນາດໃຫຍ່ໃນທົ່ວ wafers ໃນ batch ດຽວກັນ; ອັດຕາຜົນຜະລິດເກຣດ A ຫຼຸດລົງ |
|
ຄວາມຮາບພຽງ > 0.20mm |
ຄວາມບໍ່ເປັນລະບຽບຂອງພື້ນຜິວເຮັດໃຫ້ເກີດລັງສີຄວາມຮ້ອນທີ່ບໍ່ສະຫມໍ່າສະເຫມີ ແລະຄວາມປັ່ນປ່ວນຂອງອາຍແກັສໃນອຸນຫະພູມສູງ |
deviations ຄວາມຫນາຄ້າຍຄື trapezoid ລະຫວ່າງສູນກາງ wafer ແລະຂອບ; ຜົນກະທົບຂອບເຮັດໃຫ້ຮຸນແຮງຂຶ້ນ |
|
ຊີວິດການເຄືອບສັ້ນ / ຄວາມອ່ອນໄຫວຕໍ່ການປອກເປືອກ |
ການຈັບຄູ່ຕົວຄູນການຂະຫຍາຍຄວາມຮ້ອນທີ່ບໍ່ດີລະຫວ່າງການເຄືອບ SiC ແລະ graphite ແບບດັ້ງເດີມ |
ການປົນເປື້ອນອະນຸພາກເພີ່ມຂຶ້ນ; ການຢຸດເຄື່ອງເລື້ອຍໆສໍາລັບການບໍາລຸງຮັກສາ |
ທັດສະນະຫຼັກ: ການເພີ່ມປະສິດທິພາບການໄຫຼເຂົ້າແລະພື້ນທີ່ຄວາມຮ້ອນໂດຍຜ່ານການຈໍາລອງຕົວເລກ, ສົມທົບກັບເຄື່ອງຈັກ CNC ທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາລະດັບ micron ແລະການເຄືອບ CVD SiC ທີ່ມີຄວາມຫນາແຫນ້ນສູງ, ປັບປຸງປະສິດທິພາບຂອງ susceptor ໂດຍພື້ນຖານ.
ເພື່ອແກ້ໄຂການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ກັບກະເປົ໋າຂອງລູກຄ້າແລະຂໍ້ບົກພ່ອງຂອງກະຕຸກ, ທີມງານວິສະວະກໍາ VeTek Semiconductor ໄດ້ດໍາເນີນການປະເມີນຜົນຢູ່ສະຖານທີ່, ສະກັດຕົວກໍານົດການການດໍາເນີນງານຂອງເຕົາປະຕິກອນ, ແລະອອກແບບການແກ້ໄຂການເພີ່ມປະສິດທິພາບແບບປາຍສຸດທີ່ກໍານົດເອງ:
VeTek Semiconductor ເຄື່ອງຈັກຄວາມແມ່ນຍໍາແບບພິເສດ, ຫ້ອງສະອາດ & ການຄວບຄຸມຄຸນນະພາບ
ການນໍາໃຊ້ ANSYS Fluent, ການຈໍາລອງຕົວເລກ 3D ໄດ້ຖືກປະຕິບັດສໍາລັບຄວາມໄວການໄຫຼຂອງອາຍແກັສ, ຄວາມຫນາຂອງຊັ້ນຊາຍແດນ, ແລະການຖ່າຍທອດຄວາມຮ້ອນຂອງຮັງສີໃນເຕົາປະຕິກອນ CVD. ອີງໃສ່ການວິເຄາະແບບຈໍາລອງ, ເສັ້ນຜ່າສູນກາງຂອງເສັ້ນກະເປົ໋າຫັນປ່ຽນ ແລະ ໂຄງສ້າງຮ່ອງແກວ່ງຊີ້ທິດທາງກ໊າຊຢູ່ເທິງພື້ນຜິວຂອງຕົວດູດໄດ້ຖືກອອກແບບຄືນໃຫມ່, ເຮັດໃຫ້ທາດອາຍແກັສ reactant ຮັກສາລະບອບການໄຫຼຂອງ laminar ທີ່ມີຄວາມສອດຄ່ອງສູງຂ້າງເທິງແຕ່ລະກະເປົ໋າແລະກໍາຈັດ vortices ທ້ອງຖິ່ນ.
ຄວາມຫນາແຫນ້ນສູງ, ຄວາມບໍລິສຸດສູງ isotropic graphite isostatic ໄດ້ຖືກເລືອກເປັນອຸປະກອນການຍ່ອຍສະຫຼາຍ, ຄຽງຄູ່ກັບການຍົກລະດັບ 5-axis CNC ເຄື່ອງມືເຄື່ອງກົນຈັກຄວາມແມ່ນຍໍາ. ໂດຍການຫລອມໂລຫະການຄວບຄຸມຄວາມກົດດັນຂອງຕົວຍຶດ ແລະ ເສັ້ນທາງຂອງເຄື່ອງມືໃນລະຫວ່າງການປະມວນຜົນ, ຄວາມຮາບພຽງຂອງຕົວຍຶດຫຼັງເຄື່ອງໄດ້ຖືກຄວບຄຸມຢ່າງເຂັ້ມງວດລົງຈາກ <0.20mm ຫາ <0.15mm, ດ້ວຍພື້ນຜິວ susceptor ຊັ້ນເທິງຫຼັກທີ່ບັນລຸຄວາມຮາບພຽງທີ່ແຕກຫັກຂອງ <0.08mm.
ການເຄືອບ α-SiC ທີ່ມີຄວາມຫນາແຫນ້ນສູງທີ່ມີຄວາມຫນາແຫນ້ນແມ່ນໄດ້ປູກຢູ່ເທິງພື້ນຜິວ graphite substrate ຜ່ານ Chemical Vapor Deposition (CVD). ການເຄືອບມີຄຸນສົມບັດຄວາມບໍລິສຸດເຖິງ 99.999% (ຊັ້ນ 5N-6N), ການນໍາຄວາມຮ້ອນສູງ, ແລະການຕໍ່ຕ້ານການກັດກ່ອນຂອງອາຍແກັສ hydrogen chloride (HCl) ຮ້ອນ. ມັນກົງກັບຄ່າສໍາປະສິດການຂະຫຍາຍຄວາມຮ້ອນ (CTE) ຢ່າງສົມບູນແບບຂອງຊັ້ນຍ່ອຍ graphite, ຮັບປະກັນບໍ່ໃຫ້ມີຮອຍແຕກ ຫຼື delamination ໃນລະຫວ່າງວົງຈອນຄວາມຮ້ອນຢ່າງໄວວາ.
ການແກ້ໄຂດ້ານວິຊາການ & ຂໍ້ໄດ້ປຽບການປະຕິບັດ
|
ຂະຫນາດດ້ານວິຊາການ |
ມາດຕະການປັບປຸງ VeTek |
ຂໍ້ໄດ້ປຽບດ້ານວິຊາການ & ຜົນໄດ້ຮັບ |
|
ການອອກແບບພາກສະຫນາມໂຄງສ້າງ & Flow |
ການຈຳລອງຊ່ອງການໄຫຼ 3D CVD + Pocket edge micro-structures ສໍາລັບການຊີ້ນໍາການໄຫຼ |
ຄວາມເປັນເອກະພາບຂອງການແຜ່ກະຈາຍຂອງອາຍແກັສເພີ່ມຂຶ້ນ 35%; ຄວາມແຕກຕ່າງຂອງເຂດແດນຖືກລົບລ້າງ |
|
ການຄວບຄຸມຄວາມແມ່ນຍໍາຂອງເຄື່ອງຈັກ |
ເຄື່ອງຈັກ CNC 5-axis ultra-precision + ເຄື່ອງມືບັນເທົາຄວາມກົດດັນ |
Flatness ບັນລຸໄດ້ <0.08mm; ຄວາມທົນທານຄວາມເລິກຂອງຖົງຄວບຄຸມພາຍໃນ ± 0.003mm |
|
ວັດສະດຸເຄືອບ & ຂະບວນການ |
ການເຄືອບ CVD SiC ຄວາມບໍລິສຸດສູງ (ຄວາມຫນາ 100-150μm) |
ການ corrosion ພິເສດແລະການຕໍ່ຕ້ານການຊ໊ອກຄວາມຮ້ອນ; ຂະຫຍາຍອາຍຸການໃຫ້ບໍລິການ > 40% |
ຄຸນສົມບັດທາງກາຍະພາບທີ່ສໍາຄັນ, ຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງ SEM, ແລະການວິເຄາະຄວາມບໍລິສຸດສູງສຸດຂອງການເຄືອບ CVD SiC
ມຸມເບິ່ງຫຼັກ: ຂໍ້ມູນພາກສະຫນາມທີ່ວັດແທກໄດ້ສະແດງໃຫ້ເຫັນວ່າການເພີ່ມປະສິດທິພາບຄວາມລຽບຂອງ susceptor ແປໂດຍກົງເປັນການຫຼຸດຜ່ອນຢ່າງຫຼວງຫຼາຍໃນ 50.7% ການປ່ຽນແປງຂອງຮູບເງົາ epitaxial pocket-to-pocket.
ຫຼັງຈາກການປ່ຽນແທນຊິ້ນສ່ວນເກົ່າດ້ວຍເຄື່ອງຍ່ອຍຊິລິໂຄນ epitaxy graphite ຫຼາຍຖົງທີ່ດີທີ່ສຸດຂອງ VeTek Semiconductor, ລູກຄ້າໄດ້ດໍາເນີນການສຶກສາການຕິດຕາມການຜະລິດທີ່ມີປະລິມານສູງຢ່າງຕໍ່ເນື່ອງເປັນເວລາ 30 ມື້. ຂໍ້ມູນການປັບປຸງຄຸນນະພາບທີ່ແທ້ຈິງທີ່ເກັບກໍາປະກອບມີ:
ຂໍ້ມູນການຜະລິດທີ່ວັດແທກຂອງລູກຄ້າໄດ້ສະແດງໃຫ້ເຫັນວ່າການປ່ຽນແປງຂອງຖົງໃສ່ຖົງໄດ້ຫຼຸດລົງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍຈາກ 1.4% ລົງເປັນ 0.69%, ບັນລຸການຫຼຸດລົງໂດຍລວມຂອງ 50.7%. ນີ້ເຮັດໃຫ້ຊ່ອງຫວ່າງອັດຕາການຂະຫຍາຍຕົວຫຼຸດລົງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍໃນທົ່ວກະເປົ໋າຕ່າງໆ.
ຜ່ານການເພີ່ມປະສິດທິພາບຂອງພາກສະຫນາມການໄຫຼແລະເຄື່ອງມືທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ, susceptors ທີ່ຜະລິດຫຼາຍໄດ້ບັນລຸຄວາມຮາບພຽງຢູ່ພາຍໃນ <0.15mm, ໂດຍ susceptors ຊັ້ນສູງຕີຢ່າງຫມັ້ນຄົງ <0.08mm, ໄກເກີນມາດຕະຖານອຸດສາຫະກໍາມາດຕະຖານ.
ຂໍຂອບໃຈກັບພື້ນທີ່ຄວາມຮ້ອນແລະຄວາມຫມັ້ນຄົງສູງ, ຕົວຊີ້ວັດຄວາມຕ້ານທານແລະຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງຊັ້ນ epitaxial ໄດ້ເຂົ້າໄປໃນລະດັບຄຸນນະພາບທີ່ນິຍົມ. ອັດຕາຜົນຕອບແທນຂອງ wafer ຊັ້ນ A ຂອງໂຮງງານຜະລິດເພີ່ມຂຶ້ນປະມານ 3.5%, ປະຫຍັດຫຼາຍຮ້ອຍພັນ RMB ຕໍ່ປີໃນຄ່າໃຊ້ຈ່າຍ wafer ຂູດ.
ຄໍາຕອບ:ໃນຂະບວນການ CVD ທີ່ມີອຸນຫະພູມສູງ, wafers ຊິລິຄອນແມ່ນໃຫ້ຄວາມຮ້ອນຕົ້ນຕໍໂດຍຜ່ານການນໍາຄວາມຮ້ອນແລະການຮັງສີຄວາມຮ້ອນຈາກ susceptor. ຖ້າຄວາມຮາບພຽງຂອງຕົວຮັບສັນຍານບໍ່ດີ (ເຊັ່ນ: > 0.20 ມມ), ມັນຈະສ້າງຊ່ອງຫວ່າງທີ່ບໍ່ສະເໝີພາບລະຫວ່າງຕົວຍຶດ ແລະ ເຄື່ອງເຮັດຄວາມຮ້ອນທີ່ຕິດພັນ, ເຮັດໃຫ້ເກີດການປ່ຽນແປງຂອງອຸນຫະພູມທ້ອງຖິ່ນ. ພ້ອມກັນນັ້ນ, ພື້ນຜິວທີ່ບໍ່ສະໝ່ຳສະເໝີລົບກວນການໄຫຼວຽນຂອງທາດອາຍແກັສ reactant, ເຊິ່ງກໍ່ໃຫ້ເກີດຄວາມເຂັ້ມຂຸ້ນຂອງອາຍແກັສທ້ອງຖິ່ນ ແລະຄວາມຜັນຜວນຂອງຄວາມໄວ, ເຊິ່ງສະແດງອອກໂດຍກົງວ່າເປັນຄວາມໜາຂອງຮູບເງົາໃນຖົງໃສ່ກັບຖົງ.
ຄໍາຕອບ:VeTek ໃຊ້ສານເຄືອບ CVD ຊິລິຄອນຄາໄບທີ່ມີຄວາມບໍລິສຸດສູງທີ່ສຸດທີ່ສ້າງຂຶ້ນດ້ວຍການຈັບຄູ່ CTE ທີ່ຊັດເຈນກັບຊັ້ນຍ່ອຍກຣາຟ. ພາຍໃຕ້ອຸນຫະພູມສູງ 1200 ° C ແລະ H2 / HCl corrosive ບັນຍາກາດ, ມັນສະແດງໃຫ້ເຫັນຄວາມຕ້ານທານຄວາມຮ້ອນພິເສດແລະ inertness ສານເຄມີ, ໂດຍປົກກະຕິຈະຍືດອາຍຸການບໍລິການໂດຍ 30% ຫາ 50% ເມື່ອທຽບກັບ susceptors ມາດຕະຖານອຸດສາຫະກໍາ.
ຄໍາຕອບ:ແມ່ນແລ້ວ. VeTek ມີຄວາມສົມບູນແບບ CVD ການໄຫຼ / ພາກສະຫນາມຄວາມຮ້ອນແລະລະບົບຕ່ອງໂສ້ການປຸງແຕ່ງ CNC ທີ່ຊັດເຈນ. ພວກເຮົາສາມາດປະຕິບັດ 1: 1 ວິສະວະກໍາປີ້ນກັບກັນຫຼືການເພີ່ມປະສິດທິພາບໂຄງສ້າງໂດຍອີງໃສ່ຂະຫນາດ furnace ທີ່ລູກຄ້າສະຫນອງໃຫ້, ຕົວກໍານົດການໄຫຼຂອງອາກາດ, ຫຼືຮູບແຕ້ມຂອງ susceptor ມໍລະດົກ.
ຄໍາຕອບ:ຜະລິດຕະພັນ susceptor ທັງຫມົດຜ່ານການທໍາຄວາມສະອາດ ultrasonic ແລະການຫຸ້ມຫໍ່ສູນຍາກາດຕ້ານການ static ພາຍໃນຫ້ອງຮຽນ 1000 cleanrooms. ພາຍໃນແມ່ນຮັບປະກັນໂດຍໃຊ້ໂມດູນການດູດຊຶມ EVA ທີ່ມີຄວາມຫນາແຫນ້ນສູງທີ່ກໍາຫນົດເອງ, ແລະພາຍນອກໄດ້ຖືກຫຸ້ມຫໍ່ດ້ວຍກ່ອງໄມ້ທີ່ຖືກອົບດ້ວຍຊັ້ນສົ່ງອອກ, ຮັບປະກັນການສົ່ງຜົນກະທົບສູນ.
ທັດສະນະຫຼັກ: ອົງປະກອບເຄື່ອງມືກົນຈັກ ແລະ ອຸນນະພູມທີ່ມີຄຸນະພາບສູງຂອງ semiconductor ເປັນຕົວແທນຂອງການລົງທຶນໂດຍກົງໃນການເພີ່ມຄວາມສາມາດໃນການແຂ່ງຂັນຂອງໂຮງງານ.
ໂດຍການປະຕິບັດການຈໍາລອງການໄຫຼເຂົ້າຂອງ CVD, ການຄວບຄຸມເຄື່ອງມືທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາ, ແລະການເພີ່ມປະສິດທິພາບການເຄືອບ CVD SiC ເທິງເຄື່ອງດູດຊຶມຫຼາຍຖົງຊິລິໂຄນ epitaxy graphite, VeTek Semiconductor ປະສົບຜົນສໍາເລັດໄດ້ຊ່ວຍໃຫ້ລູກຄ້າຫຼຸດຜ່ອນຄວາມຫນາຂອງຮູບເງົາຈາກ 1.4% ເປັນ 0.69%, ການແກ້ໄຂຄວາມຫນາແຫນ້ນຂອງຮູບເງົາທີ່ບໍ່ທົນທານຕໍ່ຍາວ.
ຖ້າທ່ານຍັງພົບຈຸດເຈັບປວດທາງດ້ານວິຊາການເຊັ່ນ: ຄວາມບໍ່ສອດຄ່ອງຂອງຊັ້ນ epitaxial, ການຜິດປົກກະຕິຂອງ graphite susceptor, ການປ່ຽນແປງໃນຖົງໃສ່ກັບຖົງສູງ, ຫຼືການປອກເປືອກການເຄືອບ CVD, ກະລຸນາຕິດຕໍ່ທີມງານຜູ້ຊ່ຽວຊານດ້ານວິຊາການ VeTek Semiconductor ເພື່ອໄດ້ຮັບການປະເມີນພາກສະຫນາມຟຣີແລະແຜນການເພີ່ມປະສິດທິພາບທີ່ກໍາຫນົດເອງ!



+86-579-87223657


Wangda Road, Ziyang Street, Wuyi County, ເມືອງ Jinhua, ແຂວງ Zhejiang, ຈີນ
ສະຫງວນລິຂະສິດ © 2024 WuYi TianYao New Material Tech.Co.,Ltd. ສະຫງວນລິຂະສິດທັງໝົດ.
Links | Sitemap | RSS | XML | ນະໂຍບາຍຄວາມເປັນສ່ວນຕົວ |
